石英晶体微天平(QCM)联用系统
型号:QCM Integration
应用领域:薄膜分析,表界面分析,自组装
应用领域:薄膜分析,表界面分析,自组装
石英晶体微天平联用系统(QCM Integration)
德国欧库睿因新推出的联用技术,实现成像椭偏仪和石英晶体微天平(QCM)的联用,提供更为丰富的薄膜、表界面分析手段。
产品特点:
人性化设计,方便操作
集成两种薄膜分析技术优点,实现无缝对接,提供更为便利的薄膜分析手段
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2018-03-26 Thickness-measurement-of-SiO2-layer-on-Si-wafer.pdf
끂4454 512.93 KB -
2018-03-26 Technology-ellipsometry-with-the-example-graphene.pdf
끂4203 1.81 MB -
2018-03-26 Principles-of-Imaging-Ellipsometry.pdf
끂4415 481.2 KB -
2018-03-26 Microstructured-lipid-bilayers.pdf
끂3968 753.45 KB
- 2018-04-02
- 2018-04-02
欧库睿因科学仪器(上海)有限公司
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